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德國ElektroPhysik QuintSonic T分層膜厚儀是一種高精度的無損檢測儀器，以下是其技術(shù)原理與測量精度的具體介紹：

技術(shù)原理

• 超聲波反射原理：QuintSonic T的智能探頭會發(fā)出超聲波脈沖，這些脈沖進(jìn)入覆層后，在覆層各層的結(jié)合面或與底材的臨界面處，會有一部分脈沖被反射回來。傳感器接收到這些反射的超聲波脈沖后，通過測量脈沖在覆層中傳播的時間以及已知的聲波在介質(zhì)中的速度，計算出覆層的厚度。

• A型掃描圖像輔助：其QSoft軟件可以顯示測量時的A型掃描圖像，即超聲波脈沖在涂層中的傳播情況。通過A型掃描圖像，用戶可以更直觀地觀察到超聲波脈沖在涂層各層中的反射情況，從而更準(zhǔn)確地確定涂層的厚度。同時，還可以通過參數(shù)設(shè)置來定義測量范圍、抗干擾、回波診斷和預(yù)估截止帶范圍，以排除雜波的干擾，進(jìn)一步提高測量的準(zhǔn)確性。

• 多層測量技術(shù)：該儀器能夠測量多達(dá)8層的涂層厚度，這得益于其先進(jìn)的傳感技術(shù)和軟件算法，能夠準(zhǔn)確區(qū)分和識別不同涂層之間的反射信號，從而實現(xiàn)對多層涂層的精確測量。

測量精度

• 高分辨率：QuintSonic T的分辨率為0.1微米，這意味著它可以檢測到非常微小的涂層厚度變化，為精確測量提供了基礎(chǔ)。

• 高精度測量：其測量精度為±（1微米+1%讀數(shù)），在使用橫切標(biāo)準(zhǔn)板進(jìn)行標(biāo)定校準(zhǔn)的前提下，能夠保證測量結(jié)果的高精度和可靠性。例如，當(dāng)測量厚度為100微米的涂層時，其測量誤差范圍僅為±1.1微米，這對于許多工業(yè)應(yīng)用來說是非常精確的。

• 重復(fù)性和再現(xiàn)性：儀器的重復(fù)性和再現(xiàn)性好，即在相同條件下多次測量同一涂層厚度時，測量結(jié)果具有高度的一致性。這使得QuintSonic T分層膜厚儀在質(zhì)量控制和生產(chǎn)過程中能夠提供可靠的測量數(shù)據(jù)，有助于確保產(chǎn)品質(zhì)量的穩(wěn)定性和一致性。